SJ-410组合式粗糙度仪技术参数
X轴(驱动部)
测量范围:25mm(SJ-411),50mm(SJ-412)
测量速度:0.05,0.1,0.5,1.0mm/s
返回速度:0.5,1.0,2.0mm/s
移动方向:向后
直线度:0.3μm/25mm(SJ-401),
0.5μm/50mm(SJ-402)
定位:±1.5°(倾角),10mm(向上／向下)
检测器
范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm(使用测头选件时，
大可达2400μm)
检测方法:无轨／有轨测量
测力:4mN或0.75mN(低测力型)
测针针尖:金刚石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低测力型)
导头曲率半径:40mm
检测方法:差动电感式
电源:通过AC适配器／可充电镍氢电池
电池寿命:多可测量600次(不带打印)
充电时间:15个小时
数据输出通过RS-232C端口／SPC输出
尺寸(WxDxH)
控制器:307x165x94mm
高度-倾角调整装置:131x63x99mm
驱动部:128x36x47mm(SJ-401),
155x36x47mm(SJ-402)
重量
控制器:大约1.2kg
高度-倾角调整装置:大约0.4kg
驱动部:0.6kg(SJ-401),0.7kg(SJ-402)

评估能力
评估轮廓:
P(主轮廓),R(表面粗糙度轮廓),W(滤波波度轮廓),
DIN4776、粗糙度motif、波形motif
评估参数:
Ra,Ry,Rz,Rq,Pc,R3z,mr,Rt,Rp,Rv,Sm,S,?c,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,
Mr2,A1,A2,Lo,Ppi,R,AR,Rx,Da,Dq,Ku,HSC,mrd,Sk,W,AW,
Wte,Wx,Vo
分析图表:
支撑曲线(BAC1/2)、振幅分布曲线(ADC)
滤波类型2CR,PC75,高斯
截止波长0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
取样数:X1,X3,X5,XL
任意长度(XL):0.1-25mm(0.1-50mm:SJ-412),
0.1mm增量
取样长度(L):0.08,0.25,0.8,2.5,8mm

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